單鍍層錫SN厚標樣Calmetrics標準片Calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司，其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本電測)Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer等生產制作標準樣品。美國Calmetrics公司專業(yè)生產X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件，提供對標準件的校準服務，公司通過ISO/IEC17025認證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI (American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。其生產的標準片質量精良，精度高、穩(wěn)定性好。 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。標準片分單層標準片、雙層標準片、多層標準片，其中單層標準片又可分為單元素標準片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標準片、合金薄片、合金鍍在底材上等，各種規(guī)格搭配，可根據客戶個性化需要定制。所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片，并附有標準片厚度值證書.
Calmetrics鍍層標準片適用于各種品牌的X射線測厚儀（涂鍍層厚度測試儀） 應用：適用于Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本電測)、Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀（膜厚計）。

單鍍層錫SN厚標樣Calmetrics標準片

Calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司，其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本電測)Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer等生產制作標準樣品。美國Calmetrics公司專業(yè)生產X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件，提供對標準件的校準服務，公司通過ISO/IEC17025認證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI (American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。其生產的標準片質量精良，精度高、穩(wěn)定性好。 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。標準片分單層標準片、雙層標準片、多層標準片，其中單層標準片又可分為單元素標準片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標準片、合金薄片、合金鍍在底材上等，各種規(guī)格搭配，可根據客戶個性化需要定制。所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片，并附有標準片厚度值證書.
Calmetrics鍍層標準片適用于各種品牌的X射線測厚儀（涂鍍層厚度測試儀） 應用：適用于Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本電測)、Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀（膜厚計）。

Calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司，其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本電測)Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer等生產制作標準樣品。美國Calmetrics公司專業(yè)生產X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件，提供對標準件的校準服務，公司通過ISO/IEC17025認證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI (American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。其生產的標準片質量精良，精度高、穩(wěn)定性好。 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。標準片分單層標準片、雙層標準片、多層標準片，其中單層標準片又可分為單元素標準片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標準片、合金薄片、合金鍍在底材上等，各種規(guī)格搭配，可根據客戶個性化需要定制。所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片，并附有標準片厚度值證書.
Calmetrics鍍層標準片適用于各種品牌的X射線測厚儀（涂鍍層厚度測試儀） 應用：適用于Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本電測)、Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀（膜厚計）。