X射線鍍層測厚儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法， 射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量速度慢，多適用于抽樣檢驗。
x射線鍍層測厚儀是通過X射線激發(fā)各種物質(zhì)(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線，然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進(jìn)行進(jìn)行定性，測量這被釋放出來的特征X射線的強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)片(或者對比樣)對比得出各物質(zhì)的厚度，這種強(qiáng)度和厚度的對應(yīng)關(guān)系在軟件后臺形成曲線。而各種物質(zhì)的強(qiáng)度增加，厚度值也增加，但不是直線關(guān)系；通過標(biāo)樣和軟件及算法(算法有FP法和經(jīng)驗系數(shù)法)得到一個接近實際對應(yīng)關(guān)系的曲線。
x射線鍍層測厚儀原理
1、原理：X射線照射樣品，經(jīng)過鍍層界面，射線返回的信號發(fā)生突變，根據(jù)理論上同材質(zhì)**厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。
理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。
2、XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。
功能：精密測量金屬電鍍層的厚度。
應(yīng)用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
